PIEZOCONCEPT 進(jìn)口光束分析儀

光束分析儀：是一種用于激光束特性分析的診斷設(shè)備，它不僅可以測(cè)量激光束的整個(gè)光強(qiáng)分布，也可以測(cè)量激光束的具體形狀

1、常見配件：

(1)分析儀支架（用于固定光束分析儀并調(diào)節(jié)適當(dāng)高度）

(2)計(jì)量表頭（用于將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，對(duì)被測(cè)光束的光學(xué)性質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)，通過CCD和CMOS圖像處理分析出具能量分布圖，光斑圖等）

(3)適配線材：用于光束分析儀連接表頭，或連接PC端

無(wú)論是CCD還是CMOS都是用光電二極管（Photo-Diode）來感光的，無(wú)論是CCD還是CMOS都逃不過光射入光電二極管得到光電流這個(gè)最終問題

CCD：CCD的像素沒有獨(dú)立的讀出端，每個(gè)像素需要轉(zhuǎn)移自己的電荷，再最終轉(zhuǎn)移到邊緣的讀出端，就像是接力，最終的像素將整一列的電荷全部傳輸給讀出端，最終，整列的電荷轉(zhuǎn)換為電壓

CMOS：CMOS的傳輸非常簡(jiǎn)單，每個(gè)像素都有自己的電荷電壓轉(zhuǎn)換器，每個(gè)像素單獨(dú)完成電荷轉(zhuǎn)換成電壓

CCD具有圖像質(zhì)量高，圖像分辨率高，能量消耗高，成本昂貴，制造工藝復(fù)雜的特點(diǎn)

CMOS具有處理速度快，成本低，制造工藝簡(jiǎn)單的特點(diǎn)

在許多情況下——特別是對(duì)于基于相機(jī)的系統(tǒng)——在將激光束發(fā)送到光束分析儀之前，必須首先衰減激光束的功率。一些系統(tǒng)在傳輸中使用光衰減器；也可以利用例如來自高質(zhì)量玻璃板的弱反射，主要防止能量、功率過于*的光束直射光束分析儀的探測(cè)器窗口，導(dǎo)致?lián)p壞探測(cè)器。

針對(duì)于被測(cè)光束不同的波長(zhǎng)范圍需要不同的探測(cè)器類型。硅基探測(cè)器主要用于測(cè)量可見光和近紅外光譜區(qū)波長(zhǎng)高達(dá)約1μm的光束，而 InGaAs （銦鎵砷）探測(cè)器可用于波長(zhǎng)高達(dá)1.7μm的光束。

光譜儀器常見型號(hào)：

LF3 100

HS1.10 A

SLR.100

PIEZOCONCEPT 進(jìn)口光束分析儀