POLOS 用于半導(dǎo)體上的單點(diǎn)測量裝置

polos 單點(diǎn)測量裝置

微型化解決方案，用于對(duì)透明和半透明的單層薄膜或薄膜堆疊進(jìn)行精確和精確的非破壞性層厚測量。保證高度準(zhǔn)確和可重復(fù)的測量。

POLOS  FR-ES 是一種緊湊、輕便的裝置，用于涂層表征。使用 FR-ES，用戶可以在 370 - 1700 nm 光譜范圍內(nèi)進(jìn)行反射率和透射率測量。

FR-ES 平臺(tái)旨在提供 涂層表征性能。

FR-ES 可用于各種不同的應(yīng)用，例如：薄膜厚度、折射率、顏色、透射率、反射率等等。有三種配置可供選擇：

可見光/近紅外 （370 - 1020 nm）、NIR-N1 （850 - 1050 nm）、NIR （900 - 1700 nm）。

然后，有各種各樣的配件，例如：

濾光片可在某些光譜范圍內(nèi)阻擋光線

FR-Mic 用于非常小區(qū)域的測量

手動(dòng)載物臺(tái)，25 x 25 mm、100 x 100 mm 或 200 x 200 mm

用于吸光度/透射率和化學(xué)濃度測量的膠片/比色皿支架

用于漫反射和總反射的積分球

通過不同模塊的組合，最終設(shè)置滿足任何最終用戶的需求。

polos  測量臺(tái)的應(yīng)用：

大學(xué)和研究實(shí)驗(yàn)室

半導(dǎo)體

生命科學(xué)

聚合物和光刻膠特性

化學(xué)測量

介電特性

生物 醫(yī)學(xué)

硬化涂層， 陽極氧化， 金屬零件加工

光學(xué)鍍膜

非金屬薄膜

FR-ES 370 - 1020 nm 光譜范圍

緊湊、輕便的臺(tái)式系統(tǒng)

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、大學(xué)和研究實(shí)驗(yàn)室、生命科學(xué)等領(lǐng)域

廣泛的附件

單擊分析（無需初始猜測）

品牌：POLOS 系列

產(chǎn)品編號(hào)：FR-ES-VIS/NIR 近紅外

大小：FR-ES 系列

材料：臺(tái)式系統(tǒng)

厚度范圍：12 納米 - 100 微米

光譜范圍：370 - 1020 納米

光源 MTBF：鹵素?zé)簦▋?nèi)部）

 POLOS 用于半導(dǎo)體上的單點(diǎn)測量裝置